金融界2024年1月5日消息,据国家知识产权局公告,长鑫存储技术有限公司申请一项名为“存储阵列失效检测方法、装置、计算机设备、存储介质“,公开号CN117352038A,申请日期为2022年6月。
专利摘要显示,本申请涉及一种存储阵列失效检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括对存储阵列中的目标存储单元的第一电容极板施加第一电压,且对其第二电容极板施加第二电压,第二电压大于第一电压;对目标存储单元写入高电平的第一数据;对目标存储单元进行读取,获取第二数据;当第二数据不等于第一数据时,则目标存储单元的电容器失效。本申请实施例能够对电容极板漏电的问题进行良好检测。
来源:金融界